IS 12-SI光谱范围近远红外线窄带
专门用与测量硅晶体的温度
带有6个固定镜头和三个可变镜头
此款测温仪应用了近红外线窄带设计,并带有一个窄带滤波器，这样
就可以实现从350℃开始测量透红外线的硅晶体的温度
测温范围：400...900℃    350...1000℃    500...1800℃    400...1300℃

光谱范围：近远红外线窄带 信号处理: 光电流马上被数字化 测温精度： 在发射率选择正确的情况下, (ε = 1, t90 = 1 s, TU = 23°C) 1500℃以下为测温值℃ 的±0℃+ 1K 1500℃以上为测温值℃ 的±0,5% 显示：内置五位液晶显示屏，另带有功能键液晶显示 分辨率： 数字显示及接口为1℃，模拟输出小于测温范围的0,025% 重复精度： 测量值℃的0,1%±1K 响应时间t90: 10 ms 可调至10 s 发射率ε： 0.100 ... 1.000 ，，每步可调0.01 模拟输出： 线形，直流电流0 至20mA和4至20mA可以转换， 负载为0至500欧姆 测试电流输出: 10 mA/每一个信号 瞄准装置： 内装有无视差的直通式瞄准装置，另有附加的激光导向灯。

镜头